机理·改善·实证·标准：基于 r-UVIDir-UVID 分类的 TOPCon 紫外衰减全景解析

李志伟，王乐

天合光能股份有限公司

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报告摘要

紫外诱导衰减（UVID）是TOPCon太阳能电池面临的关键可靠性挑战。为了建立与 IEC TS 63624-1 光浸泡恢复流程相统一的评价框架，本综述将UVID划分为可逆（r-UVID）和不可逆（ir-UVID）两个组分。亚稳态的 r-UVID 会在暗存储期间引起暂时的功率损失，但通过光浸泡或热退火可使其得到大幅恢复。户外实证数据证实，这种 r-UVID 行为对实际的户外发电量影响微乎其微，这强调了将其与永久性衰减剥离的必要性。 在机理层面，UVID由 Si–H 键断裂、氢再分布以及热载流子注入所驱动。我们进一步探讨了包括 AlOx 优化和氢管理在内的缓解策略，为TOPCon的可靠性提供了一个全面的框架和未来的研究方向。

关键词：r-UVID；ir-UVID；TOPCon；亚稳态；实证发电