应对光伏组件紫外光诱导衰减的封装材料探讨

 胡晓波，唐国栋，王杰

杭州福斯特应用材料股份有限公司 

E-mail: xb.hu@firstpvm.com

报告摘要

随着光伏技术的迅猛发展，组件可靠性面临的一个关键挑战日益凸显——紫外光诱导衰减（UVID）。该现象指的是光伏组件在户外长期暴露于紫外线（UV）辐射下所引发的损伤，进而导致组件功率发生不可逆的下降。研究表明，多种新型光伏电池，如HJT电池、部分TOPCon电池以及BC电池均在不同程度上受到UVID的影响。为应对这一挑战，行业内众多企业已在电池与组件层面采取了相应措施。

封装材料作为保障光伏组件可靠性的关键组成部分，在解决UVID问题上具备多样化的技术路径。本报告聚焦于封装胶膜层的紫外防护技术，系统介绍紫外截止型与紫外光转换型两类胶膜的作用机制、材料特性及其在湿热、紫外加速老化等可靠性测试中的性能表现。通过实验数据对比，系统评估两类胶膜在N-TOPCon与BC电池组件中的应用效果与适配差异，为高可靠性组件封装选材提供技术依据。

关键词：可靠性；紫外光诱导衰减；截止胶膜；光转换胶膜