TOPCon光伏组件可靠性分析与应对策略

李志伟^{1, 2}，王乐²，周浪^{1, 3}

¹南昌大学光伏研究院

²天合光能股份有限公司

³南昌大学共青城光氢储技术研究院

E-mail: michaellee_2013@126.com

报告摘要

TOPCon光伏组件的长期可靠性在能源转型中至关重要，其面临紫外线辐照、高温高湿和电位诱导衰减等复杂环境挑战。这些因素导致材料老化与性能衰减，影响组件输出功率与使用寿命，进而关乎电站的能源产出与投资回报。本文报告国内外包括我们在TOPCon光伏组件紫外线诱导衰减（UVID）、湿热老化（DH）和电位诱导衰减（PID）等关键可靠性问题上的研究进展。UVID主要源于紫外线对钝化层的损伤，DH涉及金属化腐蚀和封装材料的交互作用，而PID则与电荷积累引发的界面复合增强有关。针对这些问题，提出了优化钝化层、改进封装材料和调整电池结构等解决方案，并评估了其对组件性能的影响，以期为提升TOPCon组件的可靠性和稳定性提供理论和技术参考。

关键词：TOPCon光伏组件；可靠性；UVID；DH；PID