PECVD硼扩散技术在高效晶体硅电池的应用【曾俞衡】 |
发布时间:2024-10-16 | 浏览次数:188 |
PECVD硼扩散技术在高效晶体硅电池的应用 张贤,蒲欢,杜浩江,周鸿凯,刘尊珂,刘伟,杨阵海,曾俞衡*,叶继春 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 *E-mail: yuhengzeng@nimte.ac.cn 报告摘要 隧穿氧化硅钝化接触(TOPCon)晶体硅太阳电池是当前产业的主流技术,累计产能已经达到1000 GW。现有的TOPCon电池均采用低压扩散法制备的正面硼发射极结构。低压硼扩散技术采用三氯化硼(BCl3)与氧气(O2)反应形成氧化硼(B2O3)作为硼源,在高温退火下硼原子扩散进入硅片从而形成硼发射极。该方法可以获得方阻灵活可调且钝化质量很高的硼发射极,是一项重要的半导体通用技术。 然而,低压硼扩散技术在实际大规模生产过程中,仍然存在一些不足,具体包括:1)B2O3沸点很高,中高温条件下呈液态,对石英件有粘连作用,易导致石英件在反复高低温加载下产生破裂,缩短使用寿命,导致车间需频繁更换石英件,既增加运营成本,又有安全隐患。2)具有严重的绕镀,增加工艺集成复杂度。3)BCl3会产生HCl或Cl2等强腐蚀性副产物,增加设备及管道维护难度。4)在高方阻条件下与激光的耦合作用效果有限。 针对上述问题,中国科学院宁波材料所团队于2020年开始重新研究基于PECVD路线的硼发射极制备技术[4][5],该方法采用PECVD沉积硼硅玻璃(BSG)作为硼源,结合后继高温退火实现硼扩散,具有克服低压扩散法上述问题的潜力,其优势包括:1)无材料沉积于石英管,避免石英管损坏;2)单面性沉积效果好,绕镀轻微,易于清洗,显著简化工艺;3)具有更好的技术拓展性。然而,在宁波材料所前期的工作中,PECVD硼扩法制备的硼发射极的饱和电流密度(J0e)较大(最小仅~18 fA/cm2),显著高于现有产业硼发射极J0e约6-10 fA/cm2的技术水平,缺乏产业应用价值。 近期,宁波材料所近期继续优化PECVD沉积的BSG层材料与退火处理方式,在硼发射极关键技术指标方面取得进步:1)硼发射极的J0e显著降低;2)方阻在较大范围可调(200-800 Ω/sq);3)硼扩温度可以降低(960oC-1000oC);4)结深满足激光诱导烧结技术需求;5)可以较好地兼容激光SE工艺。最终,在方阻400-600 Ω/sq的方阻条件下,我们在绒面上获得的最优J0e为8-9 fA/cm2,对应双面钝化片的最高隐含开路电压(iVoc)≥715 mV;且在平面上获得的最优技术指标略优于绒面。如果PECVD硼扩发射极的关键钝化指标能够进一步赶上或超越其它竞争技术(包括低压硼扩散、基于掺硼多晶硅的p型TOPCon),或有望在TOPCon电池或下一代背结TOPCon(TBJ)电池获得应用。 综上所述,PECVD沉积硼源结合高温退火实现硼掺杂是一种通用型半导体技术,具有很好的研究价值。特别值得指出的是,PECVD硼扩散法可以避免低压扩硼法存在的部分缺点,尤其是避免石英管更换问题,显著避免资源浪费,是一种生产友好型技术。现有工作表明,PECVD硼扩技术获得的关键技术参数已有所进步,展现出一定应用潜力,值得产业进一步关注。 关键词:硼发射极;PECVD沉积BSG硼源;TOPCon电池
图1 PECVD硼扩散技术制备TOPCon电池的主要工艺流程。
图2 PECVD硼扩散技术制备的硼发射极(a)在不同退火温度下的方阻值及(b)钝化水平。 参考文献:
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